“IC老化座 QFN32-0.5老化座 QFN32编程测试座 射频IC测试座间距0.5”详细信息
产品规格: |
不限 |
产品数量: |
500.00 个 |
包装说明: |
不限 |
价格说明: |
不限 |
查看人数: |
354 人 |
本页链接: |
https://info.b2b168.com/s168-167320566.html |
材料: |
铍铜 |
标称阻值: |
50毫欧 |
频率特性: |
300MHZ |
外形: |
放式 |
产品性质: |
高寿命 |
额定功率: |
3W |
温度系数: |
常温 |
型号: |
QFN32-0.5 |
品牌: |
ANDK |
深圳市鸿怡电子有限公司
QFN32翻盖弹片测试座
产品简介
产品用途 编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN32引脚间距0.5mm
测试座 QFN32-0.5
特点 底部引出引脚为不规则排列
规格尺寸
QFN32编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
型号 引脚间距(mm) 脚位 芯片尺寸
QFN-32-0.5 0.5 32 5*5
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广东深圳宝安区圣淘沙骏园3A1103,负责人是张燕玉。
主要经营特殊电子元器件相关产品。
单位注册资金单位注册资金人民币 250 - 500 万元。